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LTC2229
3
2229fa
The
● denotes the specifications which apply over the full operating temperature range,
otherwise specifications are at TA = 25°C. AIN = –1dBFS. (Note 4)
SYMBOL
PARAMETER
CONDITIONS
MIN
TYP
MAX
UNITS
SNR
Signal-to-Noise Ratio
5MHz Input
70.6
dB
40MHz Input
●
68.9
70.6
dB
70MHz Input
70.6
dB
140MHz Input
70.3
dB
SFDR
Spurious Free Dynamic Range
5MHz Input
90
dB
2nd or 3rd Harmonic
40MHz Input
●
74
90
dB
70MHz Input
90
dB
140MHz Input
85
dB
SFDR
Spurious Free Dynamic Range
5MHz Input
95
dB
4th Harmonic or Higher
40MHz Input
●
80
95
dB
70MHz Input
95
dB
140MHz Input
90
dB
S/(N+D)
Signal-to-Noise Plus Distortion Ratio
5MHz Input
70.6
dB
40MHz Input
●
68.5
70.5
dB
70MHz Input
70.5
dB
140MHz Input
70
dB
IMD
Intermodulation Distortion
fIN1 = 28.2MHz, fIN2 = 26.8MHz
90
dB
Full Power Bandwidth
Figure 8 Test Circuit
575
MHz
DY A IC ACCURACY
U
W
PARAMETER
CONDITIONS
MIN
TYP
MAX
UNITS
VCM Output Voltage
IOUT = 0
1.475
1.500
1.525
V
VCM Output Tempco
±25
ppm/
°C
VCM Line Regulation
2.7V < VDD < 3.4V
3
mV/V
VCM Output Resistance
–1mA < IOUT < 1mA
4
I TER AL REFERE CE CHARACTERISTICS
UU
U
(Note 4)
SYMBOL
PARAMETER
CONDITIONS
MIN
TYP
MAX
UNITS
VIN
Analog Input Range (AIN+ – AIN–)
2.7V < VDD < 3.4V (Note 7)
●
±0.5 to ±1V
VIN,CM
Analog Input Common Mode (AIN+ + AIN–)/2
Differential Input (Note 7)
●
1
1.5
1.9
V
Single Ended Input (Note 7)
●
0.5
1.5
2
V
IIN
Analog Input Leakage Current
0V < AIN+, AIN– < VDD
●
–1
1
A
ISENSE
SENSE Input Leakage
0V < SENSE < 1V
●
–3
3
A
IMODE
MODE Pin Leakage
●
–3
3
A
tAP
Sample-and-Hold Acquisition Delay Time
0
ns
tJITTER
Sample-and-Hold Acquisition Delay Time Jitter
0.2
psRMS
CMRR
Analog Input Common Mode Rejection Ratio
80
dB
A ALOG I PUT
U
The
● denotes the specifications which apply over the full operating temperature range, otherwise
specifications are at TA = 25°C. (Note 4)
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